สถานที่กำเนิด:
จีน
ชื่อแบรนด์:
Liocrebif
ได้รับการรับรอง:
GJB 9001C-2017
หมายเลขรุ่น:
ชิปไจโร LKF-MEMS
ปริมาณการสั่งซื้อขั้นต่ำ: 1
หมายเลขข้อมูลจำเพาะ: LKF-MEMS GYRO CHIP
ชิปไจโรสโคป MEMS แกนเดี่ยวเป็นเซ็นเซอร์เฉื่อยที่ผลิตด้วยเทคโนโลยีการผลิตแบบไมโครนาโน ออกแบบมาเพื่อวัดความเร็วเชิงมุมของวัตถุรอบแกนเดียว พัฒนาและออกแบบโดย Likof Technology Co., Ltd. ผลิตภัณฑ์นี้มีกระบวนการผลิตที่สมบูรณ์แบบในประเทศจีน ตั้งแต่การผลิตเซ็นเซอร์ไปจนถึงการบรรจุหีบห่อและการทดสอบ เพื่อให้มั่นใจถึงความเป็นอิสระที่แข็งแกร่งและความปลอดภัยของห่วงโซ่อุปทานที่มั่นคง
ผลิตภัณฑ์นี้ใช้เทคโนโลยีการสุ่มตัวอย่างความเร็วสูงร่วมกับการชดเชยข้อผิดพลาดแบบคงที่ (รวมถึงการชดเชยอุณหภูมิเต็มรูปแบบสำหรับจุดศูนย์ลอย, ข้อผิดพลาดของอัตราขยาย และข้อผิดพลาดในการติดตั้ง) และอัลกอริทึมการแก้ไขข้อผิดพลาดแบบไดนามิก สิ่งนี้ช่วยให้มั่นใจได้ถึงความแม่นยำในการวัดที่โดดเด่นและความเสถียรในระยะยาวแม้ในสภาพแวดล้อมที่ซับซ้อน โครงสร้างที่กะทัดรัดช่วยให้การรวมระบบทำได้ง่ายและเหมาะสำหรับระบบที่มีพื้นที่จำกัด
ผลิตภัณฑ์นี้มีการออกแบบที่พัฒนาขึ้นภายในประเทศอย่างสมบูรณ์ โดยมีการควบคุมกระบวนการทั้งหมดตั้งแต่เทคโนโลยีหลักไปจนถึงการบรรจุหีบห่อและการทดสอบ เพื่อให้มั่นใจถึงความเสถียรของอุปทานและการตรวจสอบย้อนกลับของผลิตภัณฑ์ อัลกอริทึมการชดเชยข้อผิดพลาดแบบคงที่และแบบไดนามิกแบบบูรณาการช่วยลดผลกระทบของจุดศูนย์ลอยและอุณหภูมิได้อย่างมีประสิทธิภาพ เพิ่มความแม่นยำในการวัดและความสามารถในการปรับตัวเข้ากับสภาพแวดล้อม
การออกแบบผลิตภัณฑ์เป็นไปตามมาตรฐานระบบคุณภาพ ISO 9001 และ GJB อย่างเคร่งครัด เพื่อให้มั่นใจถึงประสิทธิภาพที่สม่ำเสมอและความน่าเชื่อถือสูงในระยะยาว บริษัทมีความสามารถในการรวมระบบและการปรับปรุงการใช้งาน ทำให้สามารถปรับโซลูชันให้เข้ากับความต้องการของแพลตฟอร์มที่แตกต่างกันได้อย่างแม่นยำและมีประสิทธิภาพสำหรับการนำทางเฉื่อย
ในระบบนำทางเฉื่อย (INS) ชิปไจโรสโคป MEMS แกนเดี่ยวทำหน้าที่เป็นหนึ่งในเซ็นเซอร์หลัก รับผิดชอบในการวัดความเร็วเชิงมุมของตัวพา เมื่อรวมกับมาตรความเร่ง จะช่วยให้สามารถกำหนดทัศนคติและประมาณตำแหน่งได้
| พารามิเตอร์ | ข้อมูลจำเพาะ | |||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| รุ่น | MC3200P1 | MC1800A1 | MB06800I6 | MB2100A4 | MC3200V8 | MC3200E1 |
| ช่วง (°/s) | 400 | 500 | 500 | 500 | 8000 | 100 |
| ความละเอียด (บิต) | 24 บิต | 24 บิต | 24 บิต | 24 บิต | 24 บิต | 24 บิต |
| อัตราเอาต์พุต (Hz) | 12K | 12K | 12K | 12K | 12K | 2K |
| ความหน่วง (มิลลิวินาที) | <3 | <1.5 | <1.5 | <1.5 | <1.5 | <50 |
| แบนด์วิดท์ (Hz) | ≥90 | ≥200 | ≥200 | ≥200 | ≥180 | 12 |
| อัตราส่วนการขยาย (LSB/°/s) | 20000 | 16000 | 16000 | 16000 | 1000 | 80000 |
| SF ซ้ำ (ppm) | <20 | <20 | <20 | <20 | <20 | <100 |
| SF อุณหภูมิ ดริฟท์ (ppm) | 100 | <100 | <100 | <100 | <100 | <300 |
| SF ไม่เป็นเชิงเส้น (ppm) | 100 | <150 | <150 | <150 | <150 | <300 |
| ความไม่แน่นอนของจุดศูนย์ (°/ชม.) | 0.05 | <0.1 | <0.2 | <0.5 | <1 | <0.02 |
| ความเสถียรของจุดศูนย์, 10 วินาที (°/ชม.) | <0.5 | <1 | <2 | <5 | <10 | <0.1 |
| ความเสถียรของจุดศูนย์, 1 วินาที (°/ชม.) | <1.5 | <3 | <6 | <15 | <25 | <0.3 |
| ARW (°/√ชม.) | <0.025 | <0.05 | <0.1 | <0.25 | <0.5 | <0.005 |
| จุดศูนย์ ดริฟท์อุณหภูมิ, 1σ (°/ชม.) | <5 | <10 | <20 | <30 | 10 | 3 |
| จุดศูนย์ ดริฟท์อุณหภูมิ, การสอบเทียบ, 1σ (°/ชม.) | <0.5 | <1 | <5 | <10 | <5 | <0.3 |
| จุดศูนย์ ซ้ำ, 1σ (°/ชม.) | <0.5 | <0.5 | <2 | <3 | <10 | <0.1 |
| สัญญาณรบกวนแบบ Peak-Peak (°/s) | <0.15 | <0.35 | <0.5 | <0.4 | <2 | <0.005 |
| ความไวต่อ g (°/ชม./g) | <1 | <1 | <1 | <3 | <1 | <1 |
| VRE (°/ชม./g, rms) | <1 | <1 | <1 | <3 | <1 | <1 |
| เวลาเปิดเครื่อง (วินาที) | 750 ม. | |||||
| ความถี่แกนขับ (Hz) | 10.5k-13.5k | |||||
| ความเหมาะสมกับสภาพแวดล้อม | ||||||
| แรงกระแทก (เปิดเครื่อง) | 500g, 1ms | |||||
| แรงกระแทก (ปิดเครื่อง) | 10000g, 10ms | |||||
| การสั่นสะเทือน (เปิดเครื่อง) | 18 g rms, สเปกตรัมการคัดกรอง | |||||
| อุณหภูมิการทำงาน | -40°C ~ 85°C (-55°C ปรับแต่งได้ °C) | |||||
| อุณหภูมิการจัดเก็บ | -55°C ~ 125°C | |||||
| แรงดันไฟฟ้า | 5±0.25V | |||||
| กระแสไฟฟ้า | 45mA | |||||
ส่งคำถามของคุณโดยตรงกับเรา
